簡介：
雙式膜厚計LZ-373是一款中型雙膜測厚儀，具備電磁感應和渦流探頭，廣泛應用于測量磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層。該測厚儀具有廣泛的測量范圍和高精度測量能力，支持數(shù)據(jù)存儲和統(tǒng)計計算功能。

主要特點：

1. 雙式測量方法：雙式膜厚計LZ-373采用電磁感應和渦流組合型測量方法，適用于不同類型的涂層和金屬材料測量。

2. 寬泛測量范圍：電磁感應型測量范圍為0~2500μm或99.0mils，渦流型測量范圍為0~1200μm或47.0mils。

3. 高精度測量：測量精度在50μm以下為±1μm，在50μm以上且1000μm以下為±2%，1000μm以上為±3%。

4. 數(shù)據(jù)存儲與統(tǒng)計計算：膜厚計具有大約39,000個點的數(shù)據(jù)內存，并支持統(tǒng)計計算功能。

5. 多種兼容標準：雙式膜厚計LZ-373兼容多種標準，如JIS、ISO、BS和ASTM標準。

6. 方便實用的設計：該測厚儀采用數(shù)字式顯示，帶背光LCD，最小顯示位數(shù)為0.1μm。支持外部輸出連接計算機，具備便攜包和長達100小時的電池壽命。

技術規(guī)格：

• 測量方法：電磁感應/渦流組合型

• 測量目標：磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層

• 測量范圍：電磁感應型0~2500μm，渦流型0~1200μm

• 測量精度：50μm以下為±1μm，50μm以上且1000μm以下為±2%，1000μm以上為±3%

• 解決能力：100μm以下為0.1μm，100μm以上為1μm

• 兼容標準：電磁感應型兼容JIS、ISO、BS和ASTM標準，渦流型兼容JIS、ISO、BS和ASTM標準

• 數(shù)據(jù)存儲器數(shù)量：約39,000個點

• 外部輸出：計算機（USB或RS-232C）

• 電源：電池1.5V（AA堿性）x 4

• 工作溫度限制：0～40℃

• 尺寸/質量：75（寬）×145（深）×31（高）毫米，0.34千克

附件和選項：
附件：標準板（10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm）、標準板盒、鐵底座（FE-373）、鋁底座（NFE-373）、探頭適配器、便攜包、電池1.5V（AA堿性）x 4
選項：可選標準板、測量支架LW-990、計算機電纜、RS-232C-USB電纜、數(shù)據(jù)管理軟件：“Data Logger LDL-03"

結語：
雙式膜厚計LZ-373是一款高精度薄膜測厚儀，具備電磁感應和渦流組合型測量方法，可測量磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層。該測厚儀具有廣泛的測量范圍、高精度測量能力和數(shù)據(jù)存儲統(tǒng)計計算功能，滿足各種標準要求。便攜設計和多種附件和選項使其易于操作和使用，適用于工業(yè)領域的薄膜測厚應用。